Investigation of surface layers by SIMS and SIIMS

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• Calculation from first principles of the yield of ions and excited neutral atoms sputtered from metal surfaces
  Surface Science, 1973
• Beobachtung von oberflächenreaktionen mit der statischen methode der sekundärionen-massenspektroskopie. I die methode
  Surface Science, 1971
• Some basic considerations concerning the sensitivity of sputter ion mass spectrometers
  International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics, 1971
• Die Analyse monomolekularer FestkörperoberflÄchenschichten mit Hilfe der SekundÄrionenemission
  The European Physical Journal A, 1970
• Die Emission negaliver Sekundarionen von Verbindungen mit komplexen Anionen
  Zeitschrift für Naturforschung A, 1969
• Über die Energieverteilung der bei der Kathodenzerstäubung ausgeschleuderten Teilchen
  Annalen der Physik, 1965
• Notizen: Positive Sekundärionenausbeute von 21 Elementen
  Zeitschrift für Naturforschung A, 1964
• Sputtering Ion Source for Solids
  Journal of Applied Physics, 1963
• Ion Source for Mass Spectrography
  Physical Review B, 1949