Methodical Aspects of X-Ray Diffraction Analysis of Surface Treated Materials
- 1 January 1989
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- Published by Springer Nature
Abstract
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- Makroskopische Eigenspannungen in der Verbindungsschicht gasnitrierter StähleHTM Journal of Heat Treatment and Materials, 1985
- Quantitative X-ray phase analysis of surface layersJournal of Applied Crystallography, 1984
- X‐ray scattering by real polycrystalline materialsCrystal Research and Technology, 1983
- A New X-Ray Diffraction Method for Thin Film Thickness EstimationPhysica Status Solidi (a), 1982
- Einfluß eines Konzentrationsgradienten bei röntgenographischen SpannungsmessungenMaterialwissenschaft und Werkstofftechnik, 1981
- Untersuchungen über die Auswirkungen der Eindringtiefe und die Wahl der Strahlung bei der röntgenographischen SpannungsmessungPublished by Springer Nature ,1981
- X-Ray Analysis of Dislocation Densities and Resistivity Changes of Plastically Deformed F.C.C. Ni-Co AlloysPhysica Status Solidi (a), 1971