Einfluß der Oberflächenbearbeitung auf die Röntgenstrahl‐Totalreflexionsprofile
- 1 January 1975
- journal article
- research article
- Published by Wiley in Crystal Research and Technology
- Vol. 10 (10) , 1063-1066
- https://doi.org/10.1002/crat.19750101009
Abstract
Bei der Totalreflexion von Röntgenstrahlen an realen Oberflächen tritt eine Verbreiterung des einfallenden Röntgenstrahlbündels auf. Diese Verbreiterung ist eine sehr empfindliche und experimentell leicht erfaßbare Größe, mit der die Qualität lichtoptisch spiegelnder Oberflächen charakterisiert werden kann.Keywords
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- The non-specular scattering of X-rays from thin filmsJournal of Applied Crystallography, 1970
- Some Observations on the Interference Fringes Formed by X Rays Scattered from Thin FilmsPhysical Review B, 1966
- Origin of Anomalous Surface Reflection of X RaysPhysical Review B, 1965
- Interpretation of the Anomalous Surface Reflection of X RaysJournal of Applied Physics, 1965
- Anomalous Surface Reflection of X RaysPhysical Review B, 1963