Improved Methods for Producing Interference Filters

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Abstract
The production of all-dielectric interference fillers necessitates an accurate method of controlling layer thickness. A technique is described which is a modification of that due to Giacomo and Jacquinot, and which enables such filters to be constructed without the use of control surfaces. With this method the position of a filter pass-band may be located to within ± 20 Å. The useful area of a filler is limited by the non-uniform thickness of evaporated layers. Results are given of the increase in this area made possible by rotating the glass substrate during deposition. La production de filtres d'interférences, uniquement diélectriques, nécessite une méthode précise pour le contrôle de l'épaisseur des couches. La technique décrite est une modification de celle de Giacomo & Jacquinot; elle permet de fabriquer ces filtres sans utiliser de surfaces témoins. Avec cette méthode, la bande transmise par un filtre peut être déterminée à ± 20 Å près. La surface utile du filtre est limitée par le manque d'uniformité de l'épaisseur des couches déposées. Des résultats sont donnés, concernant l'augmentation de cette surface, rendue possible en faisant tourner le support-verre pendant l'évaporation. Die Herstellung von Interferenzfiltern, die ausschliesslich aus Dielektrika aufgebaut sind, verlangt eine genaue Methode in der Einhaltung der Schichtdicken. In Abänderung einer Methode von Giacomo und Jacquinot wird ein Weg beschrieben, der die Herstellung der Filter ohne die Benutzung von Probeflächen erlaubt. Nach dieser Methode kann die Lage des Filterbandes mit einer Genauigkeit von ± 20 Å eingehalten werden. Der brauchbare Bereich der Filterfläche ist bestimmt durch die Ungleichmässigkeiten in der Dicke der aufgedampften Schichten. Lässt man aber den Glasträger während des Niederschlagens rotieren, so kann man die brauchbare Filterfläche vergrössern.