Réflectomètre destiné à des mesures en lumière polarisée dans l'ultraviolet à vide
- 1 January 1969
- journal article
- Published by EDP Sciences in Revue de Physique Appliquée
- Vol. 4 (4) , 507-511
- https://doi.org/10.1051/rphysap:0196900404050700
Abstract
Les auteurs décrivent un réflectomètre destiné à des mesures en lumière polarisée dans l'ultraviolet à vide, sur des matériaux massifs ou évaporés. Cet appareil offre la possibilité de faire varier de façon continue l'angle d'incidence de 4° à 86° et de changer l'orientation du plan d'incidence. Il est associé à un miroir torique qui joue un rôle de polariseur et d'élément de focalisation et l'on montre comment on peut déterminer le degré de polarisation de la lumière incidente sur l'échantillonKeywords
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- Ultrahigh Vacuum Reflectometer for Use with Extreme Ultraviolet Synchrotron RadiationReview of Scientific Instruments, 1969
- Vacuum Ultraviolet ReflectometerReview of Scientific Instruments, 1965
- Analytical Determination of Optical Constants Based on the Polarized Reflectance at a Dielectric–Conductor Interface*Journal of the Optical Society of America, 1964
- A Spectrophotometer for Determining Optical Constants in the Vacuum Ultraviolet RegionJapanese Journal of Applied Physics, 1963
- Apparatus for the Measurement of Vacuum Ultraviolet Optical Properties of Freshly Evaporated Films before Exposure to AirJournal of the Optical Society of America, 1961
- Comparison of Reflection Methods for Measuring Optical Constants without Polarimetric Analysis, and Proposal for New Methods based on the Brewster AngleProceedings of the Physical Society, 1961
- Attenuated total reflectionSpectrochimica Acta, 1961
- Some New Formulas for Determining the Optical Constants from Measurements on Reflected LightJournal of the Optical Society of America, 1955
- Spectroscopy in Infrared by Reflection and Its Use for Highly Absorbing Substances*Journal of the Optical Society of America, 1951
- On Calculating the Optical Constants from Reflection CoefficientsJournal of the Optical Society of America, 1939