Dégradation des monocristaux de polyéthylène en microscopie électronique entre 1 et 2,5 MV. I. Etude à température ambiante

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Abstract
On a pu mesurer la dose critique d'électrons qui détruit la cristallinité des monocristaux de polyéthylène, pour des tensions d'accélération entre 1 et 2,5 MV. Dans cette gamme d'énergie, la dose critique reste sensiblement constante et 3 fois plus grande qu'à 100 kV. On peut rendre compte de cette loi en calculant le pouvoir d'arrêt des électrons par la formule de Bethe corrigée pour tenir compte de la canalisation. On obtient alors une énergie critique de 490 eV/nm3 environ. La canalisation est plus importante pour les basses tensions, pour des épaisseurs moyennes (20 nm), et pour certaines orientations