Röntgentopographische Untersuchung von KDP‐Kristallen
- 1 January 1974
- journal article
- research article
- Published by Wiley in Crystal Research and Technology
- Vol. 9 (6) , 675-683
- https://doi.org/10.1002/crat.19740090611
Abstract
Die Versetzungsanordnung in KDP‐Kristallen, die aus der Lösung gewachsen sind, ist mit Hilfe der Röntgentopographie (Lang‐Methode) untersucht worden. Die räumliche Orientierung der Versetzungen und ihre Burgersrichtungen wurden bestimmt. Die Versetzungsdichte übersteigt nicht den Wert von 103 cm−2, es gibt auch Gebiete, die versetzungsfrei sind. Als Quellen der Versetzungen werden Einschlüsse der Mutterflüssigkeit bzw. Fremdstoffe angesehen.Keywords
This publication has 4 references indexed in Scilit:
- X-ray topography as a tool in crystal growth studiesJournal of Crystal Growth, 1972
- X‐ray diffraction topography study of defects in potassium dihydrogen phosphate (KDP) and ammonium dihydrogen phosphate (ADP) single crystalsCrystal Research and Technology, 1970
- Zum Kontrast an Versetzungen im RöntgenbildThe European Physical Journal A, 1964
- Studies of Individual Dislocations in Crystals by X-Ray Diffraction MicroradiographyJournal of Applied Physics, 1959