Sources of error in the modulated wavelength optical thickness monitor for dielectric layers
- 1 October 1969
- journal article
- Published by IOP Publishing in Journal of Physics E: Scientific Instruments
- Vol. 2 (10) , 875-879
- https://doi.org/10.1088/0022-3735/2/10/310
Abstract
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- Properties of All-Dielectric Interference Filters I A New Method of CalculationJournal of the Optical Society of America, 1959
- Remarque sur l'influence de la dispersion dans les systèmes de couches minces diélectriquesJournal de Physique et le Radium, 1958
- Improved Methods for Producing Interference FiltersOptica Acta: International Journal of Optics, 1955
- Contribution à l'étude de l'intensité des raies et bandes d'absorption dans l'infrarougeJournal de Physique et le Radium, 1952