Analyse d'une méthode D.L.T.S. utilisant une détection synchrone mesurant l'harmonique deux du signal de capacité
Open Access
- 1 January 1982
- journal article
- Published by EDP Sciences in Revue de Physique Appliquée
- Vol. 17 (11) , 759-767
- https://doi.org/10.1051/rphysap:019820017011075900
Abstract
Nous décrivons une méthode D.L.T.S. utilisant une détection synchrone dont la mise en oeuvre est simple ; cette méthode réduit l'influence sur les mesures de la réponse transitoire du capacimètre et élimine la composante continue de la capacité. La détection de l'harmonique deux présente alors une meilleure sélectivité que la détection du fondamental. La limitation à une demi-période du signal de capacité à l'entrée de la détection synchrone réduit le bruit de fond pour les coefficients de Fourier a1, a2, b 2 de ce signal. Une seule remontée de température est suffisante pour déterminer la signature des défauts. Nous caractérisons trois défauts d'énergie d'activation respective : 0,22 ; 0,29 ; 0,39 eV dans un échantillon de Ga As multi-implanté en oxygèneKeywords
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- A sensitive and inexpensive signal analyser for deep level studiesJournal of Physics E: Scientific Instruments, 1981
- X-Y plotter capacitance meter interface for deep level spectroscopyJournal of Physics E: Scientific Instruments, 1981
- Transient distortion and nth order filtering in deep level transient spectroscopy (DnLTS)Solid-State Electronics, 1981
- Deep-level-transient spectroscopy: System effects and data analysisJournal of Applied Physics, 1979
- Electron traps in bulk and epitaxial GaAs crystalsElectronics Letters, 1977
- A correlation method for semiconductor transient signal measurementsJournal of Applied Physics, 1975
- Deep-level transient spectroscopy: A new method to characterize traps in semiconductorsJournal of Applied Physics, 1974