Röntgenografische Untersuchung des Debye‐Waller‐Faktors und der Gitterkonstanten von V3Si‐Pulver im Temperaturbereich von 25 K bis 1000K
- 1 January 1978
- journal article
- research article
- Published by Wiley in Crystal Research and Technology
- Vol. 13 (6) , 737-746
- https://doi.org/10.1002/crat.19780130617
Abstract
Im Temperaturbereich von 25 K bis 1000 K werden die Temperaturabhängigkeit der integralen Intensität und Braggwinkel der elastisch gestreuten Röntgenstrahlung von V3Si‐Pulver ermittelt. Die gemessenen Intensitäten können durch einen isotropen, quasiharmonischen Debye‐Waller‐Faktor beschrieben werden. Eine anomale Temperaturabhängigkeit im Bereich des martensitischen Phasenüberganges tritt nicht auf. Der lineare thermische Ausdehnungskoeffizient nimmt im Bereich unter 100 K anomal stark mit der Temperatur ab (und hat ein negatives Vorzeichen bei Temperaturen unterhalb 70 K).Keywords
This publication has 8 references indexed in Scilit:
- Superconductivity and anharmonicity in V3SiJournal of the Less Common Metals, 1975
- Anwendung der „Optimalfilter‐Methode”︁ bei der röntgendiffraktometrischen Bestimmung von Differenz‐ElektronendichtenCrystal Research and Technology, 1975
- Low-Temperature Thermal Expansion ofSiPhysical Review Letters, 1971
- X-Ray Study of the Debye-Waller Factor ofNb3SnPhysical Review B, 1971
- Evidence for a First-Order Structural Transformation inSnPhysical Review Letters, 1971
- Lattice vibrations and the accurate determination of structure factors for the elastic scattering of X-rays and neutronsActa Crystallographica Section A, 1969
- Lattice Instability of High-Transition-Temperature Superconductors. II. Single-CrystalSi ResultsPhysical Review B, 1967
- Contribution of one- and two-phonon scattering to temperature diffuse scatteringActa Crystallographica, 1958